過去人們對於人體模型（HBM）和機器模型（MM）相當重視，而忽視了帶電器件模型（CDM）對器件造成的損壞，研究表明，器件本身帶電造成的損壞遠遠多於 HBM 和 MM。積體電路等器件本身由於接觸分離或者摩擦帶電，在接觸或者處理器件時會發生放電，最常見的 ESD 就是典型的 CDM 靜電放電。CDM 與HBM 和 MM 無論從測試原理方法還有程式上都有很大的不同。通過人員和設備的接地就可以控制 HBM 和 MM，而 CDM 是器件對其他物體造成的損壞，不可能通過接地來控制。F-CDM 是按照標準 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018、AEC_Q100-011/Q101-005設計的專門測試 CDM 的模擬器，具有試驗電壓寬、精度高、解析度高、穩定性好等優點，集成了高倍顯微鏡、自動電機、CDM模組於一體。