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GO-NFM3200 Micro/Mini近場分布光度計
近場光度分布測量,建立光線模型
為光源的二次光學設計和研發提供準確的依據

典型應用場景 |
AR/VR用的Micro-LED微顯示器、投影用的Micro/Mini-LED模組以及LED、OLED光源與燈具等光學系統的設計,無不需要Micro/Mini-LED的近場光分布信息。GO-NFM3200 Micro/Mini近場分布光度計(也稱燈具配光曲線測試系統或光強分布測試儀)專用於解決這類光源的近場光分布測量,可用於10μm-2mm如Micro-LED、Micro-OLED等微型顯示芯片的近場測量。

 

主要特點 |
.近場測量獲得齊全光色度參數
近場光度分布測量將被測光源看作覆雜的面或體,從發光面出發的每根光線的起點、方向和通量,為光源合格評定和後續光學設計提供精準數據。

.高靈敏度光輻射測量
採用高靈敏的光度探頭和光譜輻射計,結合具有極低亮度探測能力的成像亮度測量部件,可實現高靈敏度光色測量。
.實現被測樣品的精確對準
採用圖像識別技術結合電動微動平台實現被測對象的自動對準,解決了Micro/Mini-LED空間光場測量中對準難、發光弱、光色易漂移的難題,支持實現可對比、可覆現的精準測量。

 

主要技術指標 |

   GO-NFM3200
A軸(成像測量設備轉動中心)轉動範圍 -40°~+90°
C軸(水平物台垂直軸)轉動範圍 0°~360°
角度精度 ±0.1°
三向調節機構調節範圍 、左右:±3mm,上下:0~5mm
被測品基板最大尺寸 ≤30 mm
光線文件輸出格式 Tracepro Lighttools光學設計軟件兼容格式
(RAY和TXT文件)
光強數據文件輸出格式 *.GOS    *.CIE    *.CEN    *IES    *.Tm14    *.CIB    *.LDT