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OLED-4000 高低溫老化壽命光學特性測量系統
步入式設計,適用於高低溫下多通道模組和顯示屏的IVL、老化壽命測試
典型應用場景 |
遠方OLED-4000 高低溫老化壽命光學特性測量系統是針對高低溫環境下OLED顯示屏的綜合測量系統。該系統適用於高低溫環境下OLED顯示屏亮度色度分布、IVL、老化特性的精確測量,並配備成熟的測量軟件。該系統結構設計合理,采用先進成熟技術,保證系統具有良好的動態品質;所選控制系統執行元件精度高,可靠性好,響應速度快;設備使用、操作、維修方便,造型美觀,結構緊湊,整機運行穩定可靠,售後服務優良。
主要特點 |
.步入式暗箱一體化設計,方便操作節省空間。
.8通道獨立控溫,適用於多片OLED模塊的加速老化壽命同時測試。
.配備高性能光譜亮度計,實現光色的高穩定度、高重覆性測試。
.系統配備成熟的測量軟件,實現高穩定性自動化測量。
.系統可搭載成像亮度計實現快速亮色度均勻性及顯示缺陷測量。
主要技術指標 |
| 型 號 | OLED-4000 |
| X-Y-Z行程與精度 | 移動精度:0.1mm;分辨率:0.01mm |
| 測試容量兼容尺寸 | 32寸:8個 或 21.6寸:8個 |
| 軟件處理方式 | IVL測試:電壓、電流密度、絕對亮度、外量子效率、電流效率、發光效率、色座標、光普等參數以及IVL相關變化曲線; |
| 光學分布測試:不同點位處下OLED發光的亮度、色度、光譜分布; | |
| 壽命測試:測試三種模式下(恆壓模式、恆流模式、恆亮度模式)的預估壽命、亮度隨時間的衰減比例曲線、電壓隨時間衰减曲線、電流随時間衰减曲線; |



