技術參數

測量不透明的材料時採用的反射測量幾何為標準d/8結構，兼容SCI和SCE模式，在兼顧原材料和成品表面的光譜反射率及顏色測量。測量透明及半透明材料時採用的透射測量幾何為標準的d/0結構，特別適合對透明玻璃、薄膜等樣品的透射光譜、色度等指標的把控。 

技術優勢 
●實現業界領先的測量重複性，ΔE*ab小於0.005； 
● 雙光束反饋系統，實時監控和補償光源波動； 
● 優良深色域測量表現，在測量黑色玻璃面板等低反射率或透射率材料時，仍具有較高的精度和重複性； 
● 兼容反射和透射測量，提供SCI和SCE兩種測試模式可選； 
● 超大透射測量腔體：有效兼容各類尺寸的測量； 
●  UV校正功能：對光源的UV成分進行有效調控，使熒光增白材料的測量更加精確； 
● 多功能分析管理軟件：包含顏色、反射率、透射率測量以及統計分析功能。

測試界面 

應用指南